河北医科大学学报 ›› 2023, Vol. 44 ›› Issue (1): 10-15,56.doi: 10.3969/j.issn.1007-3205.2023.01.003
摘要: 目的 探究由舒张期室壁应变(diastolic wall strain,DWS)评估的左心室顺应性与心脏植入式电子装置术后心房高频事件 (atrial high-rate episodes,AHREs)的相关性。
方法 回顾性收集河北医科大学第一医院置入心脏植入式电子装置(cardiovascular implantable electric devices,CIEDs)的患者201例的病历资料。术后随访2年以上,根据是否发生AHREs分为AHREs组与无AHREs组。比较2组术前DWS及一般资料,并通过多因素COX逐步回归分析术后发生AHREs的独立危险因素。
结果 所有患者在置入术后12个月内出现 AHREs 26例,总共有患者在术后2年内出现AHREs 64例。在随访期间对比AHREs组与无AHREs组,2组在左心房前后径、左心房横径、DWS因素有统计学意义(P<0.05)。多因素COX逐步回归分析示左心房横径增加与DWS降低是CIEDS术后患者发生AHREs的独立危险因素(P<0.05)。ROC曲线显示DWS最佳临界值为0.35,敏感度为81%,特异性为82%。与DWS≥0.35组相比,DWS<0.35组发生AHREs的风险增高(P<0.05)。
结论 DWS作为反应左心室舒张功能的超声心动图检测指标,该值降低增加了心脏植入式电子装置术后新发AHREs的风险。