河北医科大学学报 ›› 2024, Vol. 45 ›› Issue (6): 646-653.doi: 10.3969/j.issn.1007-3205.2024.06.005
摘要: 目的 利用高分辨血管壁成像评估同型半胱氨酸水平与颅内症状性斑块中易损特征和负荷之间的关系。
方法 选取因脑缺血症状接受颅脑高分辨血管壁成像检查的118例患者。根据血清同型半胱氨酸病理生理水平将分为高同型半胱氨酸(high homocysteine,HHcy)组(Hcy>15 μmol/L),正常同型半胱氨酸(normal homocysteine,NHcy)组(Hcy≤15 μmol/L)。获取患者颅内症状性斑块的面积、狭窄程度、重塑率、标准化管壁指数(normalized wall index,NWI)以及斑块内存在的易损特征,包括对比增强、斑块内出血(intracranial hemorrhage,IPH)、表面不规则或阳性重塑。根据每个斑块中易损特征的数量作为易损负荷并进行分级。采用Logistic回归模型和Spearman相关分析评价同型半胱氨酸水平与斑块易损特征及负荷的关系。
结果 在调整人口统计学、血管危险因素和斑块测量指标后,高同型半胱氨酸水平是颅内症状性斑块IPH[校正比值比(OR)=3.051,95%CI:1.065~8.738,P=0.038]和表面不规则性(校正OR=2.745,95%CI:1.024~7.363,P=0.045)的独立预测因子。血清同型半胱氨酸浓度与症状性斑块易损负荷呈正相关(r=0.524,P<0.001)。
结论 同型半胱氨酸水平升高与缺血性患者颅内斑块的IPH和表面不规则独立相关,并可能在颅内斑块易损负荷中起作用。